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    氣相色譜分析儀峰形異變的原因大匯總

    更新時(shí)間:2018-04-20點(diǎn)擊次數(shù):2317
    氣相色譜分析儀常見峰形異變可能的原因如下:
    氣相色譜分析儀在日常色譜定量分析中,出現(xiàn)色譜峰形異變或鬼峰,不但嚴(yán)重影響定量精度,甚至使分析工作無法進(jìn)行,為此我們把峰形異變常見類型(15種)加以分析,并給出可能原因,供工作經(jīng)驗(yàn)不足的色譜工作者參考。
    在懷疑氣相色譜分析儀峰形異變尋找可能原因、排除方法之前先做以下工作:
    仔細(xì)核查操作條件,與分析方法要求是否一致;
    和當(dāng)初分析所存的標(biāo)準(zhǔn)色譜圖對(duì)照,判斷是否真出了問題;
    逐項(xiàng)仔細(xì)觀察儀器或設(shè)備工作狀態(tài),看有無操作失誤而引起的出峰失常。
    然后在依據(jù)以下15種氣相色譜分析儀異常峰形分析可能原因與排除方法。
    1.臺(tái)階峰:
    (1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕;
    (2)氣體流量突變?nèi)纾鹤⑸鋲|突然漏氣,氣路受阻等;
    (3)記錄色譜峰裝置故障如:拉線松;
    2.負(fù)峰:
    (1) TCD用氮做載氣,由于待測(cè)組分在N2中濃度不同,熱傳導(dǎo)值呈現(xiàn)非線性而可能出現(xiàn)負(fù)峰,有時(shí)可以通過改變載氣流量或進(jìn)樣量克服;
    (2)  操作ECD時(shí)進(jìn)樣量過大而出負(fù)峰,這是由于工作原理由電子捕獲轉(zhuǎn)變?yōu)殡婋x檢測(cè),此時(shí)靈敏度還會(huì)大大降低;
    (3)  操作FID,低電離效率的溶劑(如CS2)或雜質(zhì)出現(xiàn),使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負(fù)峰;
    (4)  操作FID,在無極化電壓,樣品量較大可能出現(xiàn)負(fù)峰;
    (5)  操縱NPD、FPD時(shí)氣流比不合適,溶劑或某些組分會(huì)出現(xiàn)負(fù)峰;
    3."N" 或 “W”峰:
    (1)  TCD操作,用N2作載氣由于熱傳導(dǎo)率非線性引起;
    (2)  FID操作時(shí),樣品溶劑電離效率低(如CS2),或氣流比欠佳時(shí);
    (3)  ECD操作時(shí),由于檢測(cè)器被污染,溶劑峰或待測(cè)組分含量較高,或脈沖電源有毛病;
    4.舌頭峰(前延峰):
    (1) 汽化溫度偏低;
    (2) 載氣流量小:
    (3) 進(jìn)樣量大,汽化時(shí)間長(zhǎng);
    (4) 汽化室被污染,樣品有吸附效應(yīng);
    (5) 樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染;
    (6) 進(jìn)樣技術(shù)差(揮發(fā)性組分的進(jìn)樣速度太慢);
    (7) 峰前出現(xiàn)了“鬼”峰。
    5.拖尾峰:
    (1)  色譜柱安裝不合格,樣品不能以“塞子”形進(jìn)入色譜柱,柱與檢測(cè)器安裝的死體積太大;
    (2)  樣品未能注射入柱頭中(柱頭進(jìn)樣方式);
    (3  )    汽化管沒有安裝好或破損,樣品只能脫尾進(jìn)入色譜柱;
    (4)  汽化室的溫度低或偏高;
    (5)  載氣流量偏低;
    (6)  進(jìn)樣量大;
    (7)  載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣;
    (8)  進(jìn)樣器(汽化室),被樣品中高沸點(diǎn)雜質(zhì)或注射墊殘?jiān)廴荆?/div>
    (9)  色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點(diǎn)污染物作用;
    (10) 補(bǔ)充氣未開或偏低;
    (11) 色譜柱溫度偏低或失效;
    (12) 甲烷化Ni催化劑失效;
    (13) 進(jìn)樣技術(shù)差(如速度不合適);
    (14) 正好有干擾峰(鬼峰)出現(xiàn)(如誤用被污染的注射針);
    (15) 無極化電壓(FID),此時(shí)伴隨靈敏度偏低;
    (16) 樣品前處理有毛病;
    6.出峰后基線下移:
    (1)  樣品量大,特別是溶劑改變了工作狀態(tài);
    (2)  FID被污染狀況發(fā)生改變,或氣流比發(fā)生變化;
    (3)  載氣系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣,或出現(xiàn)堵塞;
    (4)  色譜柱被污染;
    (5)  樣品處理不當(dāng),如:樣品中有些物質(zhì)和固定相發(fā)生作用;
    7.程序升溫時(shí)基流增加(漂移大),噪聲增加:
    (1)  色譜柱需重新老化或失效;
    (2)新?lián)Q載氣純度欠佳;
    (3) 過濾器失效;
    (4)樣品前處理不當(dāng),如:雜質(zhì)干擾物太多;
    (5)靈敏度太高。
    (6)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設(shè)置不合理。
    8.圓頂寬峰
    (1)樣品量大起出了色譜柱容量;
    (2)汽化溫度低;
    (3)色譜柱沒按要求安裝;
    (4)檢測(cè)器工作狀態(tài)不對(duì),如載氣太小、沒開補(bǔ)充氣;
    (5)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)(半峰寬)設(shè)置偏大;
    9.平(未到滿量程):
    (1)樣品量大,放大器量程高,衰減大,信號(hào)輸出飽和;
    (2)檢測(cè)器已工作在飽和區(qū);
    (3)數(shù)據(jù)處理輸入信號(hào)極性接錯(cuò),或零點(diǎn)失調(diào);
    10.基線出現(xiàn)波浪狀峰:
    (1)高靈敏度操作儀器未穩(wěn)定之前;
    (2)操作TCD、ECD時(shí),柱箱或檢測(cè)器箱溫度周期變化;
    (3)環(huán)境溫度對(duì)儀器控溫影響;
    (4)電壓不穩(wěn),對(duì)柱溫控制精度影響;
    (5)過溫保護(hù)設(shè)置低于控制溫度;
    (6)壓力(流量)調(diào)節(jié)閥失調(diào),周期變化;
    11.原來能分開的峰分不開:
    (1)色譜柱安裝不合要求 ;
    (2)色譜柱被污染,需重新活化  ;
    (3)色譜柱壽命已到,需更換;
    (4)新更換的氣源,純度不佳;
    (5)過濾器失效,重新老化或更換;
    (6)色譜柱溫度和載氣流量需要微調(diào)優(yōu)化(色譜分析一般允許);
    (7)檢測(cè)器工作狀態(tài)變化(如ECD漏氣、FID氣流比欠佳);
    (8)汽化室被污染,注射墊漏氣;
    (9)樣品處理不當(dāng),雜質(zhì)干擾物太多;
    (10)進(jìn)樣技術(shù)太差;
    (11)進(jìn)樣量超出了色譜柱容量;
    (12)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù),半峰寬或斜率設(shè)置不合理;
    (13)放大器量程或衰減設(shè)置失誤;
    12.直角峰
    (1)儀器輸出負(fù)信號(hào)超出了數(shù)據(jù)處理的范圍;
    (2)數(shù)據(jù)處理裝置零點(diǎn)未校正,或量程設(shè)置太大無法判斷基線位置;
    (3)數(shù)據(jù)處理裝置輸入信號(hào)極性接反,零點(diǎn)設(shè)置不對(duì);
    13.帶毛刺峰
    (1)儀器工作不穩(wěn)定,噪聲大于要求;
    (2)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù),半峰寬和斜率設(shè)置太小;
    (3)極化電壓(FID)不穩(wěn);
    14.操作條件未變,原來能判別的峰不見了:
    (1)色譜柱被污染或失效;
    (2)氣路系統(tǒng)被污染(如氣源純度低,過濾器失效);
    (3)注射墊漏氣;
    (4)注射針密封性差;
    (5)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù),如:半峰寬和斜率設(shè)置偏大;
    (6)進(jìn)樣方法不對(duì);
    15.“鬼峰”(怪峰,多余峰,記憶峰):
    (1)上一次進(jìn)樣的高沸點(diǎn)雜質(zhì)峰自然流出;
    (2)載氣不純過濾器失效使低沸點(diǎn)的污染物冷凝在色譜柱頭,程序升溫時(shí)正常流出;
    (3)注射墊未經(jīng)老化或無隔墊清洗而出的污染峰;
    (4)汽化溫度太高或嚴(yán)重污染至使樣品某些組分分解;
    (5)樣品某些組分與被污染固定相產(chǎn)生了作用;
    (6)色譜柱溫度太高固定相分解;
    (7)使用了被污染的注射針( 本身不合格,手摸或進(jìn)過易污染的樣品);
    (8)樣品予處理不完善或用錯(cuò)溶劑;
    (9)樣品中有空氣;
    (10)TCD、ECD等密封性差(漏氣);
    (11)電源不穩(wěn),對(duì)控溫或放大器有不良影響;
    (12)色譜柱堵塞物使用不當(dāng),如玻璃棉未按要求進(jìn)行處理。
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